Advantest Q7750 光学示波器

光学测量仪器和光学设备测试系统

速光通信和高密度波分复用光通信（Dense-WDM）的研究与开发取得了重大进展，这些技术正越来越多地应用于工业领域。

在研究和开发领域，振幅特性、色度色散特性和群分复用特性是重要的、

在研发领域，需要以较高的光频分辨率测量光学设备或光学子系统的振幅特性、色度色散特性和群延迟特性。

需要该功能的设备包括 AWG、光纤光栅滤波器、色散补偿器等。

特别是，由于色散特性会阻碍光通信比特率的提高，因此降低或管理色散值。

Q7750 optocope（光网络分析仪）是一种用于测量光传输特性的革命性设备，

可在光载波频率范围内高速、高分辨率地测量光设备入射光和反射光的振幅/色散/群延迟特性。

此外，还能轻松测量各种色度色散特性，包括色散位移光纤或非零色散光纤的零色散特性和色散斜率特性。

采用相移法进行测量，可实现高光频分辨率和宽动态范围。

可批量测量光载波频率范围内的光传输特性 Q7750 配备了可变波长光源，

可通过扫描一系列波长（光频率）同时测量光载波频率范围内的传输和反射特性（S21 和 S11 作为 S 参数）。

测量参数如下表所示。这些参数可在一次扫描中同时测量。

高光学频率分辨率

光频分辨率：高达 50 MHz（根据波长转换为 0.4 pm）

Q7750 的大光频分辨率为 50 MHz。这就实现了分辨率光载波频率领域的测量，而这在以前是不可能实现的。

可以轻松测量用于 DenseWDM 或 Ultra-Dense-WDM 的光学设备的振幅和色度色散特性（通道步长：100 GHz、50 GHz、25 GHz 等）。

可选波长跨度从 70 nm（大）到约 0.1 nm（小）。

高速测量

测量时间 约 6.7 毫秒（每个测量点） 约 4 秒（在指定跨度内） 一次扫描的间隔（测量时间）约为 4 秒。

这意味着 Q7750 可以在 4 秒钟内完成测量，而之前的测量过程需要几十秒。

如果测量时间过长，可能无法获得准确的结果，因为被测设备的特性可能会受温度等环境条件的影响而发生变化。

而 Q7750 可以在短时间内完成测量，确保高速、准确的测量，而不受被测设备温度特性的影响。